XAO OpenIR  > 射电天文研究室  > 微波技术实验室
电子设备电磁辐射量级的评估方法
刘奇; 汪子悦; 董晓玉; 马凌; 杜清清; 王娜; 苏晓明
2023-08-28
Rights Holder中国科学院新疆天文台
Country中国
Subtype发明专利
Contribution Rank1
Status申请中
Application NumberCN202311097551.X
Application Date2023-08-28
Open (Notice) NumberCN117289047A
Date Available2023-12-26
Abstract本发明涉及一种电子设备电磁辐射量级的评估方法,包括:对各待测电子设备进行分类,得到不同类别的电子设备;针对每个类别的电子设备,测量该类别的电子设备的其中一个的辐射发射谱,作为该类别的辐射发射谱;测量各待测电子设备所处环境的噪声,得到背景噪声谱;针对每个类别的电子设备,根据该类别的辐射发射谱和背景噪声谱,得到该类别的宽带噪声和窄带信号;针对每个类别的电子设备,获得该类别的宽带噪声的分频段干扰等级和该类别的窄带信号的分频段干扰等级;根据所有类别的宽带噪声的分频段干扰等级获得宽带噪声的总干扰等级矩阵,根据所有类别的窄带信号的分频段干扰等级获得窄带信号的总干扰等级矩阵。
Language中文
IPC Classification NumberG01R31/00(2006.01)I
Patent Agent上海智信专利代理有限公司31002
Agency邓琪 ; 熊俊杰
Document Type专利
Identifierhttp://ir.xao.ac.cn/handle/45760611-7/6688
Collection射电天文研究室_微波技术实验室
射电天文研究室_脉冲星研究团组
Affiliation中国科学院新疆天文台
First Author AffilicationXinjiang Astronomical Observatory, Chinese Academy of Sciences
Recommended Citation
GB/T 7714
刘奇,汪子悦,董晓玉,等. 电子设备电磁辐射量级的评估方法[P]. 2023-08-28.
Files in This Item:
File Name/Size DocType Version Access License
202311097551X_发明专利申请(2833KB)专利 开放获取CC BY-NC-SAApplication Full Text
Related Services
Recommend this item
Bookmark
Usage statistics
Export to Endnote
Google Scholar
Similar articles in Google Scholar
[刘奇]'s Articles
[汪子悦]'s Articles
[董晓玉]'s Articles
Baidu academic
Similar articles in Baidu academic
[刘奇]'s Articles
[汪子悦]'s Articles
[董晓玉]'s Articles
Bing Scholar
Similar articles in Bing Scholar
[刘奇]'s Articles
[汪子悦]'s Articles
[董晓玉]'s Articles
Terms of Use
No data!
Social Bookmark/Share
All comments (0)
No comment.
 

Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.