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一种基于BLT方程的带孔多层腔体屏蔽效能计算方法
刘奇; 胡茂振; 董晓玉; 马凌; 唐仁凯; 苏晓明; 王娜
2024-02-05
Rights Holder中国科学院新疆天文台
Country中国
Subtype发明专利
Contribution Rank1
Status申请中
Application NumberCN202410164951.6
Application Date2024-02-05
Open (Notice) NumberCN118052181A
Date Available2024-05-17
Abstract本发明提出一种基于BLT方程的带孔多层腔体屏蔽效能计算方法,包括:获取与多层屏蔽腔体的屏蔽效能相关的物理参数;建立多层屏蔽腔体的等效电路;建立多层屏蔽腔体的等效模型的信号流图,进而建立与求解BLT方程,得到多种传播模式下的监测点两端的入射电压波向量和反射电压波向量之和;根据入射电压波向量和反射电压波向量之和来确定监测点的总电压,进而确定屏蔽效能的计算公式;将物理参数代入屏蔽效能的计算公式,得到屏蔽效能的计算值。基于BLT方程的带孔缝多层腔体屏蔽效能计算方法用于实现多层屏蔽腔体的屏蔽效能的计算,能满足射电望远镜多层屏蔽方案屏蔽效能计算需求。
Claim1.一种基于BLT方程的带孔多层腔体屏蔽效能计算方法,其是由计算机实现的,其特征在于,包括:步骤S1:获取多层屏蔽腔体、平面波激励源和监测点的与多层屏蔽腔体的屏蔽效能相关的物理参数;步骤S2:建立多层屏蔽腔体的等效电路;步骤S3:根据多层屏蔽腔体的等效电路,建立多层屏蔽腔体的等效模型的信号流图,进而建立与求解BLT方程,得到多种传播模式下的监测点的第一端和第二端的入射电压波向量和反射电压波向量之和;步骤S4:根据多种传播模式下的电压向量和监测点的第一端和第二端的入射电压波向量和反射电压波向量之和来确定监测点的总电压,进而确定屏蔽效能的计算公式;步骤S5:将采集的多层屏蔽腔体、平面波激励源和监测点的与多层屏蔽腔体的屏蔽效能相关的物理参数代入屏蔽效能的计算公式,得到多层屏蔽腔体的屏蔽效能的计算值。
Language中文
PCT Attributes
IPC Classification NumberG06F30/3323(2020.01)I ; G06F17/11(2006.01)I ; G06F17/16(2006.01)I
Patent Agent杨怡清
Agency上海智信专利代理有限公司31002
Document Type专利
Identifierhttp://ir.xao.ac.cn/handle/45760611-7/7628
Collection射电天文研究室_微波技术实验室
射电天文研究室_脉冲星研究团组
Affiliation中国科学院新疆天文台
First Author AffilicationXinjiang Astronomical Observatory, Chinese Academy of Sciences
Recommended Citation
GB/T 7714
刘奇,胡茂振,董晓玉,等. 一种基于BLT方程的带孔多层腔体屏蔽效能计算方法[P]. 2024-02-05.
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