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Metrology system in the raidio telescopes 会议论文
IET Conference Publications, Guilin, China, October 7, 2015 - October 10, 2015
Authors:  Feng, S. F.;  Ban, Y.
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Units Of Measurement  Instrument Errors  Radio Telescopes  Telescopes  
一种赋形双反射面天线最佳吻合赋形面参数的计算方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201610236745.7, 申请日期: 2016-04-15,
Inventors:  班友;  王从思;  段宝岩;  王伟;  保宏;  冯树飞;  闫永清
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结构变量对控制性能影响函数的计算方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201510473607.6, 申请日期: 2015-08-05,
Inventors:  李素兰;  李娜;  米建伟;  王从思;  保宏;  冯树飞;  班友;  项斌斌
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轮轨式反射面天线指向误差的确定方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201510340140.8, 申请日期: 2015-06-18,
Inventors:  李素兰;  李娜;  米建伟;  朱韵茹;  冯树飞;  保宏;  王从思;  吴江;  班友;  项斌斌
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